Sermyagins Family.
Семейный сайт — все что нам интересно в прошлом, настоящем и будущем
Некоторые Вопросы Оценки Погрешностей Масс-Спектрометрических Измерений Изотопного Состава Элементов
Б.А. Сермягина, А.А. Пупышевб*
a ФГУП «Комбинат Электрохимприбор»,
Коммунистический пр. 6а, 624200 г. Лесной, Свердловская обл., Россия.
б ГОУ ВПО «Уральский государственный технический университет – УПИ», ул. Мира 19, 620002 Екатеринбург, Россия. E‐mail: [email protected]
Поступила в редакцию 17.06.2008 г.; после переработки ‐ 04.07.2008 г.
C использованием литературных и собственных экспериментальных данных, накопленных за многие годы, рассмотрено формирование и вклад основных составляющих погрешности резуль‐ татов измерения изотопного состава элементов с использованием методов масс‐спектрометрии с термической ионизацией (TIMS), ионизацией электронами и с индуктивно‐связанной плазмой (ICP‐MS). Выделены случайные и систематические составляющие погрешности, проявляющиеся в основных блоках масс‐спектрометров. Аналитически рассмотрено формирование составляющих шума в зависимости от различных экспериментальных параметров и исследовано поведение функции случайной составляющей погрешности результата изотопного анализа. Изучен вклад дискримина‐ ции ионов по массе, «мертвого времени» системы регистрации, фракционирования компонентов пробы и разнообразных дрейфов. На основании рассмотренного материала оценен вклад различных парциальных составляющих в общую погрешность результатов изотопного анализа для методов TIMS и ICP‐MS. Доминирующей составляющей погрешности результатов определений методом TIMS в одноколлекторном режиме измерения является фракционирование пробы, для ICP‐MS – дрейфы измеряемой интенсивности, дискриминации ионов по массе и шкалы масс.
Ключевые слова: масс‐спектрометрия термической ионизации, масс‐спектрометрия электронной ионизации, масс‐спектрометрия с индуктивно связанной плазмой, изотопный анализ, случайные и систематические составляющие погрешности результатов измерений.
Having considered previously published materials and our own experimental data accumulated within our long‐term observation on thermal ionization mass spectrometry (TIMS), electron ionization mass spectrometry, inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP‐MS) we addressed the issue of formation and contribution of basic components of measurement uncertainties in isotopic composition of elements. The components of random and systematic uncertainties occurring in basic blocks of mass spectrometer were distinguished. The formation of noise components depending on various experimental parameters along with the behavior of the function of random uncertainties in isotopic analysis of two‐isotope elements was analyzed. The contribution of ion mass discrimination, «counter dead time» fractionation of sample components and various drifts have been examined. The contribution of various partial uncertainties into total uncertainties of isotope analysis for the TIMS and ICP‐MS methods has been estimated. The dominant component of measurement uncertainty in the TIMS technique was the fractionation of sample, while in the case of ICP‐MS technique the drifts of the measured intensities, ion mass discriminations and mass scale discriminations escalated the uncertainties.
Keywords: thermal ionization mass spectrometry; electron ionization mass spectrometry, inductively coupled plasma mass spectrometry; isotopic analysis; random and systematic uncertainties of measurements.